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Ledia7筐体写真

直接描画装置 Ledia7のロゴ

FC-CSPはじめ多彩な半導体パッケージ基板に
最適なダイレクトイメージング装置
また電子部品などの製造用途への適用にも

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Ledia twin筐体写真

直接描画装置 Ledia twinのロゴ

業界スタンダードのLediaに
世界最高速のツインステージモデルがデビュー。

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Ledia筐体写真

直接描画装置 Ledia6のロゴ

世界最先端のテクノロジーが、ひとつ上の未来を描く。

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levina筐体写真

直接描画装置 Levinaのロゴ

FCCSP、FCBGA、FOPLP等の先端パッケージに対応した
パターン用ダイレクトイメージング装置

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MIYABI7筐体写真

ビア検査装置/パターン外観検査装置 MIYABI7のロゴ

これからのLVH検査需要に応える進化系ラインナップ。

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FP9200筐体写真

最終外観検査装置 FP-9200のロゴ

スキルレス操作とベリファイ工数削減で最適なAVI作業環境を実現。

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