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ledia8 カタログ rin

Excellence in Qualities beyond imagination

因應產出要求,高精度之對位,高成像之品質、高效能之生產,
匯集於本設備高階曝光機能,一機滿足所有需求

持續性的校準系統

經由背景作業進行攝影校準,保證高生產效能的 同時,達到持續性的高精度校準

承襲高精度系統

應用Ledia 8F深獲好評之機身衍架,達成高精度之持續校正工作模式

溫度控制

從結構上增加冷卻單元以達到設備內部溫度管理的
最優化,至於驅動構件的冷卻效率亦進行改善以阻
絕對主機底座之熱傳導,進而提升成像位置之精度

高精度平臺

主體框架的剛性比以往的設備顯著提升。亦優化了曝
光鏡頭與校準單元的位置關係,達到機台的最佳化。

因應高階產品所需求解析度

我們的寬頻波長直接成像系統,達到了世界最優等級的成像品質。 為生產高階基板與開發中的新世代開發產品貢獻心力。

針對FC-BGA膜,光阻劑φ35μm t=18μm

應用於PKG基板的線路生成感光膜

L/S=7/7μm

L/S=7/7μm

L/S=7/7μm

t=25μm

7μm line

t=25μm

高縱橫比圖案應用之感光膜

L/S=40/40μm

t=約100μm

L/S=40/40μm

t=約100μm

20μm line

t=135μm

自動化/HOST ONLINE 對應(SECS/GEM)