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MIYABI ビア検査装置/パターン外観検査装置 カタログ rin

Just right, there it is.

可支援廣泛的產品應用需求

X級產品新增搭載了線路檢查功能,其高附加值之一就是實現了對的基板的高產出率之檢查。 供您可從4個不同需求等級之中,選用最適方案,可應用於厚銅載板,天線與感知器的HDI基板,亦或是到車載IC的 封裝載板等,皆可適用。

不只有比較檢查、DRC檢查功能,亦可應用於灰階畫素的線寬與長度測量檢查。

應用於值畫素的比較,不僅於DRC檢查,亦可應用於灰階畫素的線寬與長度測量檢查,以及Sub-Pixel 等級的高精度檢查。以往難以檢出的缺或突起亦能有效辨識並進行檢查的同時,控制誤報數量。

可應對所有基板和材質的多角度直線拱型照明

用於9軸(C級為4軸)構成的多角度直線 拱型照明,可根據表面處理的狀態、各種 材質以及各種各樣的要求,進行最適的光 量調整。 難度較高的Pattern和基板,也能有效地 辨識,取得良好的檢查結果。

大幅度降低FPC基板的穿透不良

可應對白色基板

不僅是電路檢查,還可應對LVH檢查

亦裝配著我們獨家的 LVH檢查判斷邏輯。 近年來,檢查需求增長的 Via孔徑測量,偏移,真 圓度,異常等,MIYABl 都能高精度的效率檢出。 Pattern與LVH檢查可同 時兼用。

強大完整的分析功能

我們獨家的分析軟體工具,能夠支援各式基板進行各種 分析。 分析報告不僅可以輸出為CSV,還可以輸出為圖像,可 以直接輸出為報告即時應用。

運用Al削減既定工時,節省人力成本

近年來PCB生產線上人力不足,控制成本為對策以節省人力成本已是趨勢化的潮流。 SCREEN對於自家開發的Al系統檢查設備之檢查結果,進行自動過濾。 經由過濾虛報,可預期到將減少需再驗證的缺陷製程,達到節省人力成本·並提高產能。

將曝光設備連線,並結合資料分析系統等配套的使用,可有效地提出改善電路板製程的建議。

智慧支援檢查系統的高效能運作

CU-9000是將CAM資料轉換為檢查用資料的工作站。除了多層的一併設置之外,還搭載了自動提取信號 線和焊盤部等需要嚴格檢查的區域等多種功能。最大限度地發揮檢查設備的性能,以滿足越來越嚴格的 檢查要求。CU-9000 是一個預設的工作站,可將設計資料從 CAM 流程快速傳輸到偵測系統。它配備了 多 種 功 能,從 多 層 的 批 量 設 定 至 信 號 線、P a r t t e n 部 分,以 及 其 他 需 要 特 別 嚴 格 檢 查 的 區 域,並 可 自 動 提 取 其資訊。 CU-9000 的設置,可全力提升檢測系統的效能,以滿足日益嚴格的檢測要求。