光學式外觀檢查裝置 MIYABI 7

MIYABI 7新開發的獨特照明裝置中,可以選擇3種類型的光源。甚至可以檢視各種顏色的基板,仍然可以獲得良好的檢查結果。
此外,還配備了新開發LVH(雷射通孔)檢視專用邏輯。如孔徑偏差或者通孔底部缺陷,LVH的頂部直徑為60μm級,MIYABI 7的電射通孔檢視能力可檢查到所有的異常。

特長

設定簡單

前端軟體的設定非常簡單!

專用工作站“CU-9000”大幅升級!只需按照終端使用者的指示書輸入檢查條件,即可自動設定為最佳條件。然後僅需執行選擇RECIPE和輸入板厚這一簡單操作,便可在大約15 分鐘內完成操作。

MIYABI 7主機側的設定也只需3步

讀取檢查資料並調整基板位置,對位結束後即準備完成。僅需3 步即可開始檢查。

高產能以及高檢測能力

新開發的照明系統可應對所有基板實施高精度檢查

獨家設計的“多角線圓蓋型光源”,不僅光通量均勻,而且透過所輸入的掃描圖像,對於過去難以確保的圖案和基材部分對比度的基板,也能以較強的對比度輸入,從而獲得良好的檢查結果。此外,還搭載了可根據基材種類進行選擇的3色LED 光源,不僅適用於HDI基板、FPC基板,還可創建適合各種材質基板的最佳檢查環境。

可分別對PAD和線路設定條件,進而提昇了檢測缺陷精準度

搭載了新開發的“Pad & Line Feature 檢查功能”。使用分別獨立的參數對每種PAD 寬、線寬進行長度測量檢査,以高精準度檢測出缺陷。

孔穴檢查亦採用新式邏輯

可以以次微米單位進行更加細微的長度測量,大幅提升針對孔偏以及孔徑、頸部折斷等孔周邊部位的各種缺陷的檢出精準度。