エリプソ式膜厚測定装置
RE-3500
【Wafer size 125mm ~ 300mm】
loT向け電子デバイスに対応した計測装置
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Wafer size 50mm ~ 300mm
R&Dに最適な顕微鏡モデル
● 25種類の層膜測定(UVモデルは29種類)
● 分光反射率測定
● 膜種のユーザー登録
● 測定データやその他統計出力の3次元マッピング
● 積層膜同時測定(最大4層膜まで)
● エッチレート計算